200kV透射电子显微镜   预约
	管理人员	王奕文	仪器型号	日本电子JEM2100
	联系电话	021-62233385	放置位置	闵行校区生物馆121室
	使用方向	对外开放	仪器状态	正常

仪器收费标准（院内、院外、校外）： 

校内：400元/小时

校外：800元/小时

样品制备费用根据具体情况另行计算

技术参数：

◆ 分辨率： 0.204 nm，拍摄金单晶薄膜样品的晶格像 Au[200]

◆ 加速电压： 40 至 120 kV( 步进量 100 V/步 )  

◆ 放大倍率( 图像放大无旋转 ) ：高反差模式´200 至 ´200,000( 30 步 )；高分辨模式´4,000至 ´600,000( 20 步 )；低倍模式 ´50至 ´1,000( 10 步 )  

◆ 图象旋转功能：倍率范围 ´1,000 to ´40,000( 19步 )；旋转角度 ± 90°( 15°步 )  

◆ 相机衍射长度：选区衍射 0.2 至 8.0 m( 10步 )；高反差模式 0.2 至 2.0 m( 7步 )   

◆ 照明系统束斑尺寸： 高反差模式 0.5 至 2 µm( 5 步 )；高分辨模式 0.5 至 1 µm ( 5步 )  

◆ 自动聚焦：聚焦修正范围 ± 25 µm( 倍率 ´20,000 )( 聚焦修正范围与倍率相关 )   

◆ 自动照相功能：自动聚焦并照相最佳欠焦量设定

◆ 自动消像散：像散修正范围 ± 2 µm（ 倍率 ´20,000 )( 像散修正范围与倍率相关 )；像散修正精度小于等于60 % 

◆ 样品反污染系统、自动镜筒烘烤系统、物镜冷指

◆ 样品低损伤功能 自动预辐照( APIS 功能 )   

◆ 电子枪自动升枪、2级电磁电对中偏压、半固定、自动束流控制，灯丝直接加热

◆ 样品台：优中心侧插式测角台

◆ 样品承载网 ：3.0 mm( 标准 )，行程X 、Y ： ± 1 mm； Z： ± 0.3 mm

◆ 成像镜系统：透镜系统、六级透镜系统、图象旋转修正( ± 5° ) 、内置图象旋转功能

仪器主要功能及应用：

主要功能

◆ JEOLJEM-2100透射电子显微镜可同时进行材料纳米尺度的高分辨像观察与选区电子衍射分析，配合能谱仪可以实现元素成分的定性与定量分析

◆ 在成像系统方面，可以直接拍摄电子衍射花样，并通过GatanDigitalMicrograph软件进行指标化标定，是研究材料微观结构最有力的工具之一

仪器使用步骤及注意事项:

1. 开机程序

a. 检查各仪表的读数是否正常。

b. 加液氮：在冷阱中加入液氮。

c. 升高压到 120 KV。

d. 放样品：样品杆中放入待观察样品，单倾杆是铜网正面向上，双倾杆是铜网反面向上。在软件上选择合适的样品杆名称，放样品杆可与升高压过程同时进行。

e. 开灯丝：电脑屏幕上显示 HT ON。Filament ready 状态下，点击 Filament ON开始观察。

2. 关机程序

a. 关灯丝 Filament OFF。

b. 软件上手动 ( 步长1KV ) 降高压到 120 KV，关高压 (点 OFF )。

c. 如加过液氮，样品杆要拔出，用 ACD 程序烘烤。插入烘烤加热管。